精密低阻測量
　　在低電流電路中，機電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內阻的方法，因為它避免了直流能量的消耗。

高速測量
　　高速(34ms)內設比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構成一個測量系統，使生產測試時間縮短到zui低限度。

自動測量方式
　　在進行大量連續的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時，自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設定測量范圍。

技術指標:

測量功能
測量參數：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])
組合參數：R，R-X，R-L，Z-θ(只適用于串聯模式)
數學功能：偏差和相對偏差(以百分比表示)
顯示數字：3.4或5位(可選擇)
測試信號
測試頻率：1kHz
頻率精度：±0.1 ％
測試信號電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms
電平精度：±(10％+0.2μA)
樣品兩端的zui大電壓：在任何情況下zui大為20mV峰值
測量范圍
　參數　　　測量范圍
　R　　　　 10μΩ～100kΩ
　X,|Z|　　 10μΩ～100kΩ (典型值)
　L　　　　 10nH～10H(典型值)
　θ　　　　 -180°～+180°(典型值)
測量精度：R的基本精度為±0.4 ％
測量時間：從觸發命令到處理器界面端口上的結束測量(EOM)信號輸出的時間間隔
模式　　時間(典型值)
短　　　34ms
中等　　70ms
長　　　900ms
修正功能
短路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差

比較功能
對每個一次測量參數和二次測量參數設立高/符合/低界限

接觸檢查功能
可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障

其它功能
疊加直流：在測量端可能給出±42Vdc(zui大值)
存儲/調用：可以由內部非易失存儲器對10種儀器設置進行存儲/調 用
連續存儲功能：若儀器被切斷或發生電源故障，儀器設置將自動被存 儲起來(在23±5℃時≤72小時)
HP-IB接口：所有控制設置、被測值和比較器信息
處理器接口：所有輸出信號為負邏輯，光隔離開路集電極
輸出信號包括：高/符合/低、變址，測量結束和告警。輸入信號是健鎖定和外觸發

一般指標
電源要求：198～264V，47～66Hz,45VAmax
工作溫度：0°～45℃
尺寸：320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長)
重量：4.5kg
訂貨信息

選件
　Opt ABA 英文版手冊
　Opt ABJ 日文版手冊
　Opt OBO 省去操作手冊
　Opt W30 擴大的維修服務
16338A 測試引線套件
16143B1 配對電纜(0.6m)
16005B2 Kelvin 線夾測試引線(0.4m,帶大的線夾)
16005C3 Kelvin IC線夾測試引線(0.4m,帶IC的線夾)
16005D3 Kelvin IC線夾測試引線(0.4m,帶黑色IC的線夾)
16044A SMD Kelvin接觸測試夾具
16006A4 針式探頭測試引線(0.4m)
16007A5 鱷魚夾測試引線(0.4m,帶2個紅色線夾)
16007B5 鱷魚夾測試引線(0.4m,帶2個黑色線夾)
16064B LED顯示器/觸發盒
｛1當利用16005B/C/D、16006A和16007A/B時需要；
　2需要一對16005B進行測量；
　3與16005C(1個)和16005D(1個)配用;
　4需要一對16006A進行測量
　5與16007A(1個)和16007B(1個)配用｝